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    含水树XLPE电缆绝缘的超低频损耗特性研究

    发布时间: 2016-09-26  点击次数: 941次

        含水树XLPE电缆绝缘的超低频损耗特性研究,本试验在0.1~10Hz频率范围采用日本TR-4超低频电桥进行;在30~3MHz采用日本TR-10电桥;在60.1Hz采用对电缆的阶跃电压衰减曲线进行快速富里叶变换的方法进行,为对电缆施加1000伏直流阶跃电压时的电流衰减曲线;为对老化电缆分割不同长度并分别采用上述三种装置方法)在不同测试频率的实测或数据处理结果,其tanS频谱测试值在频率分界处较好的吻合。和结果表明,低压直流吸收电流衰减曲线与超低频损耗频谱均与XLPE电缆的水树老化程度相关性较好。由于曲线4所代表的电缆绝缘水树老化己非常严重,贯穿电导电流较大,因此可将吸收电流曲线及超低频损耗频谱的非平滑程度看作电缆己不能安全运行的标志由同时获知,水树劣化XLPE电缆tanS~f关系在0.01Hz附近出现一个较平缓的峰值,并且,当水树劣化严重时,该峰值有向低频区移动的趋势鉴于曲线①、②、③、④所代表的水树劣化程度依次加重,将此峰值(tanSmax)的大小或所对应的峰值频率作为水树劣化程度的判据是适宜的。用检测超低频tanSax的方法判别水树程度的优点,除检测值远大于中高频区外,具有较直流衰减曲线信号更为明显,且tanS值与电缆长度无关的特点据近年来较多报导,水树枝基本由一系列微小含水微孔沿电场集中方向排列构成,微孔之间很可能有更细微的管子相连若用CwTRwT分别表示水树部分的电容和漏导电阻,用Cpe代表与水树部分串联完好XLPE介质的电容,则含水树XLPE电缆的等效电路模型如所示,对该电路可做如下简单分析:含水树XLPE电缆绝缘的等效电路模型设水树部分的时间常数RwtCwT,比值n =Cpe/Cwt则含水树PE绝缘的复介电常数可写成如下形式据损耗因数定义e"=e'tanS,综合(2)式可得tann获zui大值,且其值为上式表明,水树老化XLPE电缆绝缘的确存在随频率变化产生介质损耗因数zui大值的可能性,采用图示模型研究含水树电缆的超低频损耗特性是适宜的含水树XLPE电缆绝缘所呈现的超低频tanS峰值,可能与树枝微孔中的水分子及树枝管壁生成的极性端基一OHO的极化过程,互相牵制,以及松驰过程有关。鉴于水树枝这种既含水分,又包含杂质离子,且存在微孔及细微管道的特殊结构,含水树XLPE电缆绝缘的这种损耗显然与纯粹的液体或固体介质的损耗有很大不同其损耗机理还有待于进一步探讨。

        结论超低频损耗因数与XLPE电缆绝缘的水树劣化状态相关性较好,可采用定期检测超低频损耗因数的变化来监视电缆的绝缘状态采用对较低阶跃电压下衰减电流响应曲线进行快速富里叶变换可获得XLPE电缆的超低频损耗频谱。

       可将较低阶跃电压下的吸收电流曲线以及超低频损耗因数频谱的非平滑性作为XLPE电缆己不能安全运行的判据超低频损耗因数产生的原因可能与树枝中的水分、树枝生长过程中在水树壁所生成的极性基团-OH O等的极化和松驰过程,以及杂质离子在水树枝中的迁移过程有关可采用水树部分与完好介质串联的等效电路模型定性描述

             

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